Test paramétrique au niveau du wafer

Les ingénieurs de test de wafer ont besoin de réduire les temps de test sans pour autant sacrifier la qualité et la précision des mesures.

Une approche plus performante des tests paramétriques au niveau du wafer

Au fur et à mesure que les fabricants de circuits intégrés introduisent de nouveaux processus innovants en réduisant la géométrie des circuits, ils doivent s’assurer que la complexité supplémentaire due à ces changements n’affecte pas la fiabilité à long terme de leurs circuits intégrés. L’évolution rapide des technologies oblige notamment à collecter de plus en plus de données de fiabilité et à les analyser tout en réduisant le coût des tests. Face aux défis liés à l’acquisition de plus grands volumes de données tout en réduisant les coûts, de nombreux ingénieurs en charge de la fiabilité ne peuvent résoudre ce problème avec des solutions traditionnelles. Ils se tournent alors vers des solutions modulaires souples qui peuvent évoluer en même temps que leurs attentes.

Brochure NI pour le test des semi-conducteurs

Découvrez comment réduire le coût de vos tests grâce à une approche de test des semi-conducteurs basée sur une plate-forme.

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Produits et solutions

Réseau de partenaires NI

Le Réseau de partenaires NI est une communauté mondiale d’experts en développement de domaines, d’applications et de tests globaux travaillant en étroite collaboration avec NI pour répondre aux besoins de la communauté des ingénieurs. Les partenaires NI sont des gestionnaires de solutions de confiance, des intégrateurs de systèmes, des consultants, des développeurs de produits et des experts des services et des canaux de vente qualifiés dans un large éventail d’industries et de domaines d’application.

Ressources pour les applications


Kit de ressources pour la plate-forme PXI

Découvrez les fondamentaux de la plate-forme PXI pour la caractérisation des semi-conducteurs, à l’aide de notes architecturales, études de cas pertinentes et d’indicateurs de performances.