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缩短现代EO/IR成像系统的测试时间并降低测试复杂性

焦平面阵列(FPA)系统通常用于各种作战领域，包括天气预报、安全、ISR、战术防御系统等。FPA工程师一直致力于设计高性能成像系统，实现出色分辨率、可靠性和灵敏度。为了按时交付系统并把成本控制在预算以内，工程师必须找到有效的方法来设计、测试和适应各种需求，并在定制化需求和标准化需求之间取得平衡。以下是FPA测试工程师面临的一些挑战：

 

  • 缩短的项目部署时间，同时又要交付灵活的标准测试方案。
  • 使用通用的测试系统来测试多种I/O类型和设备
  • 针对现代EO/IR读出IC (ROIC)技术的定制化接口协议
  • 在集成到杜瓦瓶冷却器组件(IDCA)前后，支持并行开发和测试子系统
  • 提供从参数测试到完整系统级验证的完整测试能力

EO/IR成像探测器系统测试解决方案

  • 采用基于PXI Express、LabVIEW和TestStand的软件互联测试系统，只需单个系统即可覆盖所有I/O和测量类型
  • 支持通用数据和控制接口：RS422、SpaceWire、MIL-STD-1554、Serial RapidIO® (SRIO)、XAUI、Aurora、10 GbE等
  • 借助PXI Express SMU技术对高灵敏度FPA偏置接口进行精密测试
  • 使用LabVIEW FPGA，结合高速串行仪器，利用定制的FPGA功能，开发定制ROIC接口

NI解决方案的优势

  • 使用通用平台，通过IP和优秀实践复用，提高测试工程团队的效率

  • 减少使用FPGA评估板卡设计的定制化测试系统的过时风险和维护挑战

  • 基于标准化平台，通过灵活、开放的模块化仪表进行扩展，无需从头为每个项目重新设计测试系统

  • 将测试系统集成到单个软硬件解决方案中

  • 满足从参数测量到完整系统级验证的所有测试需求

Viewpoint Systems的AEDIS FPA测试架构

现代FPA测试系统

Viewpoint Systems使用NI灵活的模块化仪器实现FPA数据接口仿真和数据接口捕捉功能。AEDIS架构可满足您的自定义要求，同时使用多种EO/IR测试器通用的预建组件缩短开发时间。

利用NI生态系统，构建解决方案

NI提供了各种集成解决方案供您选择，可满足您的特定应用需求。您可以将全面系统控制工作交给公司内部的集成团队，也可借鉴NI以及遍布全球的NI合作伙伴联盟拥有的专业知识，获取一站式解决方案。

Viewpoint Systems

咨询EO/IR FPA系统测试领域的权威专家Viewpoint Systems。Viewpoint Systems的Aedis平台是一个FPA仿真和采集系统，用于测试高带宽、高通道数成像子系统。凭借超过25年的NI技术相关经验，Viewpoint Systems将可帮助您配置和开发理想的FPA测试解决方案。

服务与支持

在您应用的整个生命周期中，NI将与您携手同行​，随时提供培训、技​术支持、咨询和集成服务以及维护计划。您可加入NI按公司和按地域划分的用户组，加快培训进度。您还可通过在线或面授培训，来提高自身的技能水平。

NI合作伙伴是独立于NI的商业实体，与NI之间不存在代理或合资关系，亦不属于NI相关业务的一部分。